XRD衍射图谱测定 

       X射线衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行物质结构分析的技术。每一种结晶物质，都有其特定的晶体结构，包括点阵类型、晶面间距等参数，用具有足够能量的x射线照射试样，试样中的物质受激发，会产生二次荧光X射线（标识X射线），晶体的晶面反射遵循布拉格定律。通过测定衍射角位置（峰位）可以进行化合物的定性分析，测定谱线的积分强度（峰强度）可以进行定量分析，而测定谱线强度随角度的变化关系可进行晶粒的大小和形状的检测。

1. 服务内容 
　　1) 对样品进行上机前的预处理；

　　2) 利用X-射线衍射仪分析样品不同角度的衍射强度。

2. 服务说明 
　　1) 待测样品约500-600mg，不同样品有所差异； 
　　2) 40°C烘干，保证低水分含量，尽量减少样品之间的水分差异； 
　　3) 样品需要过筛，保证其不结块、不成团； 
　　4) 提供基本测定参数。 
3. 反馈客户信息 
　　电子版/纸质版的分析测试报告。 
4. 服务周期 
　　项目启动之日起后的20个工作日。